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　　二維激光掃描儀工作原理

　　

　　由于掃描法系以時間為計算基準，故又稱為時間法。它是一種十分準確、快速且操作簡單的儀器，且可裝置于生產(chǎn)在線，形成邊生產(chǎn)邊檢驗的儀器。激光掃描儀的基本結(jié)構(gòu)包含有激光光源及掃描器、受光感(檢)測器、控制單元等部分。激光光源為密閉式，較不易受環(huán)境的影響，且容易形成光束，常采用低功率的可見光激光，如氦氖激光、半導體激光等，而掃描器為旋轉(zhuǎn)多面棱規(guī)或雙面鏡，當光束射入掃描器后，即快速轉(zhuǎn)動使激光光反射成一個掃描光束。光束掃描全程中，若有工件即擋住光線，因此可以測知直徑大小。測量前，必須先用兩支已知尺寸的量規(guī)作校正，然后所有測量尺寸若介于此兩量規(guī)間，可以經(jīng)電子信號處理后，即可得到待測尺寸。因此，又稱為激光測規(guī)。

　　

　　全面考慮二維激光掃描儀

　　

　　增加的一個測量維度，使輪廓掃描儀傳感器比其他類型位移傳感器更加復雜。基本上講，不可以簡單判斷一個被測物體是否可以被輪廓掃描儀傳感器測量。二維激光掃描儀成功的測量往往取決于要取得哪個測量值以及在什么環(huán)境下進行測量。因此測量是否可行需要從頭評估每一件被測物品。舉例來講，測量是否成功取決于有多長時間可以用于測量。被測物體通過探頭光束的速度越慢，越多時間可以被用于測量。因此，不能簡單的認為一個靜態(tài)測量可行，就一定意味著動態(tài)測量也是可行的。測量的結(jié)果也取決于被測物體表面的反光特性。也就是說被測物體表面的反光性或吸光性的強弱，會決定是否可以測得有效信號。被測材料本身也會影響測量結(jié)果。舉例來講，如果半透明被測物體的透明度過高，測量信號可能*失真了。zui后一個應該考慮的因素是被測物體的輪廓缺陷，可能產(chǎn)生陰影的輪廓以及多次反射的表面影響。以上這些基本因素都可能明顯影響測量信號質(zhì)量以及測量結(jié)果。